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memsstar:以创新的 “释放” 工艺,突破 MEMS 制造瓶颈

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wisecreative
Date Released
2026年1月16日
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MEMS 制造中,牺牲层刻蚀与微结构释放是关键难点。传统湿法刻蚀易因表面张力造成结构粘连失效。英国 memsstar 专注这一痛点,提供气相干法刻蚀及表面改性方案,是全球 MEMS 供应链的重要环节。

一、核心技术原理:干法刻蚀与分子级防护

SMR 系列气相刻蚀技术采用气态反应物替代液体刻蚀:无水 HF 气相刻蚀去除 SiO₂牺牲层;XeF₂气相刻蚀硅牺牲层,对铝、光刻胶、氧化硅选择比极高。全程气相工艺从根源避免粘连,配合精准控温、控压,保证刻蚀均匀性与工艺重复性。

自组装单分子层 (SAM) 沉积技术以气相方式在微结构表面形成单分子层薄膜,减小表面吸附力,具备疏水与低摩擦特性,既可避免制造粘连,又能减少长期工作中的失效问题,显著提升器件寿命与可靠性。

二、核心产品线及应用解析

SMR 平台面向惯性传感器、光学微镜、RF MEMS、微流控器件,完成牺牲层释放,可覆盖 8 英寸量产线与实验室,缩短研发到量产周期。同时,memsstar 针对压电、铁电新材料与复杂 3D 结构提供定制工艺开发,为企业与科研机构提供路线建议,降低研发风险。

三、memsstar 专业化优势

工艺选择性高,可在不损伤金属与敏感薄膜前提下精准刻蚀;通过高精度气路系统精细控制反应速率,大幅提升高价值 MEMS 器件良率;长期专注 MEMS 释放与可靠性领域,成为解决结构粘连、良率问题的专业代表。

MEMS 的进步依赖工艺对微观结构的精准控制。memsstar 以气相干法与表面改性技术,为 MEMS 量产扫清障碍,是晶圆厂值得长期信赖的工艺与设备伙伴。

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