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SIMON成像椭圆偏振仪提供快速、高精度的薄膜厚度和光学常数测量。成像方式可实现大面积并行测量，大幅提升检测效率。
大面积样品质检、二维材料薄片定位、纳米薄膜计量、曲面/透明基底薄膜表征、表面工程、气-水界面研究、光子学/显示材料光学特性分析
易操作的入门级系统
成像椭圆偏振仪，横向椭偏分辨率低至1µm的成像椭偏仪
微观结构的厚度和折射率测量
大面积层厚分布和隐藏缺陷的快速可视化
微结构的厚度和折射率测量，椭偏仪和显微镜的结合可以测量样品的厚度图
显微镜模式非常快，并且允许在最薄层（例如单层：d=0.35nm）中观察变化和缺陷
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