FSM 128 薄膜应力与翘曲测量系统

FSM 128 薄膜应力与翘曲测量系统

非接触式晶圆应力与翘曲量测设备,高精度、全自动、高稳定,是半导体制程监控的主流选择。精准测量薄膜应力、晶圆翘曲/弯曲度与厚度,保障制程良率与可靠性。 

应用领域:

半导体、光电子、显示面板

核心特点

  • 激光扫描非接触无损测量
  • 支持室温/高温全晶圆应力mapping
  • 兼容200mm/300mm全自动量产
  • 双激光提升测量稳定性
产品信息
  • 品牌 FSM
  • 型号 FSM 128系列
  • 类别 应力测试
  • 领域 半导体、光电子

    显示面板

需要帮助?
随时联系我们

如有任何产品咨询或技术支持需求,请随时与我们联系,我们将竭诚为您服务。

慧核心技术,创至诚服务

京ICP备18008878号-1​

© 2026 wise-creative.com.cn All right reserved.