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专为300mm 晶圆打造的全自动高精度原子力显微镜,支持全域电动扫描与一键自动成像,满足大尺寸样品纳米级表征需求。
设备广泛用于半导体失效分析、质量管控与工艺检测,可高效完成形貌、粗糙度、电学、缺陷等多维度自动化测量。
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