FR-Basic 模块化薄膜光学表征仪 – 慧创科学官网

FR-Basic 模块化薄膜光学表征仪

快速测量薄膜厚度、折射率、消光系数，支持常温/温控/液相/惰性气体等多种条件下的光学表征。高性价比模块化光学膜厚测量系统，灵活配置、宽光谱、宽量程，一站式满足科研与工业薄膜表征需求。

应用领域：

半导体、光学镀膜、聚合物、光刻胶、生物医学、微流控

核心特点

全模块化设计，可自由组合光路与环境模块
光谱覆盖 200–1700 nm，膜厚测量范围 2 nm–500 μm
支持透射、反射、吸收、荧光、温控、液相、气氛环境测量
搭载 FRMonitor 专业软件，自动计算膜厚与 n/k 光学常数
即插即用、USB 控制、操作简单，无需专业光学知识

品牌 ThetaMetrisis
型号 FR-Basic
类别膜厚仪
领域半导体、光学镀膜
聚合物

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