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本晶圆级电性能测试设备支持常温 / 高温双场景测试,是一款专为半导体、微纳器件的研发验证与中小批量筛选设计,可在封装前完成芯片电参数、材料特性的精准表征,有效降低封装成本、提升测试效率。
半导体与微电子、光电器件领域
光电器件领域
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